(1987). Developments in integrated circuit testing. Acad. Pr.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Developments in Integrated Circuit Testing. London u.a: Acad. Pr, 1987.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Developments in Integrated Circuit Testing. Acad. Pr, 1987.
Achtung: Diese Zitate sind unter Umständen nicht zu 100% korrekt.