Untersuchungen des Kapazitäts- und Mikrowellenleitfähigkeitsverhaltens anodisch oxidierter InSb-MOS-Strukturen:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Schnürer, Matthias (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:Undetermined
Veröffentlicht: 1984
Schlagworte:
Beschreibung:Berlin, Univ., Diss.
Beschreibung:91, (19) Bl. Ill., graph. Darst.

Es ist kein Print-Exemplar vorhanden.

Fernleihe Bestellen Achtung: Nicht im THWS-Bestand!