Hendriks, M. (1985). X-ray diffraction study of polycrystalline silicon layers.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Hendriks, Menso. X-ray Diffraction Study of Polycrystalline Silicon Layers. 1985.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Hendriks, Menso. X-ray Diffraction Study of Polycrystalline Silicon Layers. 1985.
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