Strukturelle und elektrische Eigenschaften polykristalliner Siliziumdünnfilme:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Podbielski, Rainer (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: Düsseldorf VDI-Verl. 1986
Ausgabe:Als Ms. gedr.
Schriftenreihe:Verein Deutscher Ingenieure: Fortschritt-Berichte VDI / 9 62
Schlagworte:
Beschreibung:Zugl.: Hamburg, Techn. Univ., Diss., 1986
Beschreibung:175 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:3181462098

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