Ellipsometry in the measurement of surfaces and thin films: symposium held September 5 - 6, 1963, at the National Bureau of Standards, Washington, D.C.
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser: Passaglia, Elio (HerausgeberIn)
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Washington, DC National Bureau of Standards 1964
Schriftenreihe:Miscellaneous publication 256
Schlagworte:
Beschreibung:VI, 359 S. Ill., graph. Darst.

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