Multiple-beam interferometry of surfaces and films:
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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Tolansky, Samuel (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Oxford [u.a.] Clarendon Pr. 1949
Ausgabe:Repr.
Schriftenreihe:Monographs on the physics and chemistry of materials, 1
Schlagworte:
Beschreibung:VIII, 187 S. Ill., graph. Darst.

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