Prozeßinduzierte Fehlergefüge in Siliziumeinkristallen: Systeme Si-SiOx, Si-SiO2 und Si-SiBx
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Giese, Ulrich (VerfasserIn), Selbach, Elmar (VerfasserIn)
Format: Abschlussarbeit Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: 1988
Schlagworte:
Beschreibung:158 S. Ill., graph. Darst.

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