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Clabes, J. (1978). Spektroskopische Untersuchungen von Oberflächenzuständen an der reinen Siliziumspaltfläche mit Hilfe der Oberflächenphotospannung.

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Clabes, Joachim. Spektroskopische Untersuchungen Von Oberflächenzuständen an Der Reinen Siliziumspaltfläche Mit Hilfe Der Oberflächenphotospannung. Clausthal, 1978.

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Clabes, Joachim. Spektroskopische Untersuchungen Von Oberflächenzuständen an Der Reinen Siliziumspaltfläche Mit Hilfe Der Oberflächenphotospannung. 1978.