Clabes, J. (1978). Spektroskopische Untersuchungen von Oberflächenzuständen an der reinen Siliziumspaltfläche mit Hilfe der Oberflächenphotospannung.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Clabes, Joachim. Spektroskopische Untersuchungen Von Oberflächenzuständen an Der Reinen Siliziumspaltfläche Mit Hilfe Der Oberflächenphotospannung. Clausthal, 1978.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Clabes, Joachim. Spektroskopische Untersuchungen Von Oberflächenzuständen an Der Reinen Siliziumspaltfläche Mit Hilfe Der Oberflächenphotospannung. 1978.
Achtung: Diese Zitate sind unter Umständen nicht zu 100% korrekt.