Spektroskopische Untersuchungen von Oberflächenzuständen an der reinen Siliziumspaltfläche mit Hilfe der Oberflächenphotospannung:
Gespeichert in:
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| Format: | Buch |
| Sprache: | German |
| Veröffentlicht: |
Clausthal
1978
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| Beschreibung: | Clausthal, Techn. Univ., Diss., 1978 |
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