Analyse der Defektursachen und der Genauigkeit der Strukturübertragung bei der Röntgentiefenlithographie mit Synchrotronstrahlung:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Mohr, Jürgen (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: 1987
Schlagworte:
Beschreibung:Karlsruhe, Univ., Diss.
Beschreibung:96 S. Ill., graph. Darst.

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