Verfahren zur Beseitigung ortsfester Störungen bei xy-adressierten Halbleiterbildsensoren am Beispiel der Charge Injection Devices (CID):
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Koch, Rudolf (VerfasserIn)
Format: Abschlussarbeit Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: München 1980
Schlagworte:
Beschreibung:VII, 180, (60) S. Ill., graph. Darst.

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