Hochtemperatur-Röntgentopografie an Silizium und Galliumarsenid:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Krüger, Hans-Eckhard (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: Aachen 1976
Schlagworte:
Beschreibung:Aachen, Techn. Hochsch., Diss., 1976
Beschreibung:165 S.

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