Surface characterization and testing: 21 - 22 Aug. 1986 San Diego, Calif.
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Washington, USA SPIE 1987
Schriftenreihe:International Society for Optical Engineering: Proceedings of SPIE. 680.
Schlagworte:
Beschreibung:Literaturangaben
Beschreibung:V, 174 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:0892527153

Es ist kein Print-Exemplar vorhanden.

Fernleihe Bestellen Achtung: Nicht im THWS-Bestand!