Untersuchung der Strahlenschädigung in Tantal und Niob in einem Hochspannungselektronenmikroskop:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Saile, Bernhard (VerfasserIn)
Format: Mikrofilm Buch
Sprache:Undetermined
Veröffentlicht: Stuttgart 1981
Schlagworte:
Beschreibung:Stuttgart, Univ., Diss.
Beschreibung:81 S. Ill., graph. Darst. 1 Mikrofiche, 24x

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