(1973). Computed electron micrographs and defect identification. North-Holland.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Computed Electron Micrographs and Defect Identification. Amsterdam [u.a.]: North-Holland, 1973.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Computed Electron Micrographs and Defect Identification. North-Holland, 1973.
Achtung: Diese Zitate sind unter Umständen nicht zu 100% korrekt.