X-ray microscopy and X-ray microanalysis: proceedings of the second international symposium (Stockholm, 1960)
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Amsterdam [u.a.] Elsevier 1960
Schlagworte:
Beschreibung:X, 542 S. Ill., graph. Darst.

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