Verfügbarkeit: Defektzustände in amorphen Silizium-Germanium-Legierungen (a-Si 1-x Ge x :H)

Defektzustände in amorphen Silizium-Germanium-Legierungen (a-Si 1-x Ge x :H):

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Finger, Friedhelm (VerfasserIn)
Format:	Buch
Sprache:	German
Veröffentlicht:	1988
Schlagworte:	Amorpher Zustand Elektronenspinresonanzspektroskopie Wasserstoff Amorpher Halbleiter Silicium Germaniumlegierung Siliciumlegierung Elektronenspinresonanz Germanium Störstelle Hochschulschrift
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