Wertanalyse heute - Wertanalyse morgen: Tagung Frankfurt, 20. und 21. April 1989
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Format: Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: Düsseldorf VDI-Verl. 1989
Schriftenreihe:VDI-Berichte 760
Schlagworte:
Beschreibung:109 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:3180907606

THWS Schweinfurt Magazin

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Signatur: 2900 00780
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