Methoden der statistischen Qualitätskontrolle:
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| Format: | Buch |
| Sprache: | German |
| Veröffentlicht: |
Stuttgart
Teubner
1988
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| Schriftenreihe: | Mathematische Methoden in der Technik
10 |
| Schlagworte: | |
| Online-Zugang: | Inhaltsverzeichnis |
| Beschreibung: | Literaturverz. S. 288 - 291 |
| Beschreibung: | 295 S. graph. Darst. |
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Seite
Vorwort 9
1) EINFÜHRENDE BEISPIELE 11
1.1 Zufällige Ereignisse und Wahrscheinlichkeit 11
1.2 Bedingte Wahrscheinlichkeit und Unabhängigkeit 19
1.3 Diskrete zufällige Variable 23
1.4Stetige zufällige Variable 33
1.5 Erwartungswert, Varianz und Streuung 40
1.6 Summen zufälliger Variabler, Schätzfunktionen 49
1.7Ranggrößen 62
2) ANNAHMEKONT ROLLE 65
2.1 Prüfpläne für Gu t - S chl e ch t - P r üf un g 65
2.1.1 Operationscharakteristiken bei Gut-Schlecht-Prüfung 66
2. 1. 2 Bestimmung einfacher Prüfpläne durch Vorgabe zweier .
Punkte für die Operationscharakteristik
2. 1. 3 Lösung für OC-Kurven vom Poisson sehen Typ 71
2. 1.4 Lösung für OC-Kurven vom binomialen Typ 78
2. 1. 5 Reduzierung des Prüfaufwands bei abbrechender Kontrolle 83
2. 1. 6 Zweifache Prüfpläne 86
2. 1. 7 Sequentielle Prüfpläne 91
2. 1. 8 Der mittlere Durchschlupf 100
2.1.9 Standard-Stichprobenpläne 106
2.2 Annahmekontrolle bei Messender Prüfung 116
2. 2. 1 Prüfpläne für normalvertetlte Merkmale bei bekannter Streuung 117
2.2.2 Zwei-Punkte-Bedingungen für L(p) 125
2.2.3 Vor-und Nachteile der Messenden Prüfung im Vergleich zur
Gut-Schlecht-Prüfung
2.2.4 Prüfpläne bei beliebigem Verteilungstyp und bekannter Streuung 132
2. 2. 5 PrUfpläne für normalverteilte Merkmale bei unbekannter Streuung 136
2. 2. 6 Military Standard 414 141
2, 2, 7 Sequentielle Prüfpläne 148
3)LAUFENDE KONTROLLE VON PRODUKT IONSPRO Z ES- 152
SEN
3.1 Laufende Kontrolle durch Gu t - Sc h 1 e c h t - P r üf u n g 153
3, 1. 1 Kontrollkarten für Gut-Schlecht-Prüfung (p-Karten) 153
3, 1.2 Kontrollkarten für die Anzahl der Defekte pro Einheit 160
3.1.3 Kontinuierliche Stichprobenpläne 162
3.2 Laufende Kontrolle bei Messender Prüfung 171
3.2.1 X-Kontrollkarten für ein normalverteiltes Merkmal 171
3.2.2 Spannweite-Karten 179
3. 2. 3 Streuungskarten für ein normalverteiltes Merkmal 184
3.2.4 CUSUM-Karten 189
3. 2. 5 Andere Kontrollkarten 199
Seite
3.2.6 Die mittlere Lauflänge (das ARL-Kriterium) 201
4) KOST ENOPT IMALE VERFAHREN 208
4,1 Kostenoptimale Prüfpläne der Annahmekontrolle 209
4. 1. 1 Lineares Kostenmodell und Regretfunktion 209
4. 1. 2 Eine Näherungslösung 215
4. 1. 3 Bestimmung kostenoptimaler Prüfpläne nach UHLMANN 218
4. 1.4 Näherungslösung nach v. COLLANI 226
4. 1. 5 oc-optimale Prüfpläne nach v. COLLANI 236
4. 1. 6 Die Regretfunktion bei Messender Prüfung 239
4. 2 Ko s t e no p t i m a 1 e Prozeßkontrolle 242
4. 2. 1 Optimaler Kontrollabstand bei labilem Produktionsprozeß 242
4. 2. 2 Markow-Ketten und optimale Kontrollwahrscheinlichkeiten bei
labilen Produktionsprozessen
4. 2, 3 Allgemeinere Modelle der Prozeßkontrolle 254
4.2.4 Kontinuierliche Stichprobenpläne und Regretprinzip 262
Lösungen der Aufgaben 273
Verzeichnis der Tabellen und Nomogramme 286
Verzeichnis der wichtigsten Abkürzungen und Symbole 287
Literaturverzeichnis 288
Sachverzeichnis 292
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