Rastertunnelmikroskopie an Si-Einkristalloberflächen:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Berghaus, Thomas (VerfasserIn)
Format: Abschlussarbeit Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: 1988
Schlagworte:
Beschreibung:112 S. Ill.

Es ist kein Print-Exemplar vorhanden.

Fernleihe Bestellen Achtung: Nicht im THWS-Bestand!