Niedrigauflösende Sekundärionen-Massenspektrometrie (SIMS) an einfachen organischen Substanzen:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Zscheeg, Harry (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: 1986
Schlagworte:
Beschreibung:Heidelberg, Univ., Diss.
Beschreibung:III, 77 Bl. Ill., zahlr. graph. Darst. 4

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