Struktur und Reaktivität des Systems Pd/SiO2: vergl. XPS-, UPS-, Leed, u. Hreels-Studien
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Schleich, Bernhard (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:Undetermined
Veröffentlicht: 1986
Schlagworte:
Beschreibung:Tübingen, Univ., Diss.
Beschreibung:125 S. Ill., graph. Darst.

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