Ellipsometrische Untersuchungen der optischen Konstanten und elektronischen Interbandübergänge in Halbleitern: Temperatur-, Legierungs- u. Dotierungseffekte ; mit Tab.
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Viña Liste, Luis María (VerfasserIn)
Format: Abschlussarbeit Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: 1984
Schlagworte:
Beschreibung:322 S. graph. Darst.

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