Verfügbarkeit: Grundlagen und Anwendung der Röntgenfeinstrukturanalyse

Grundlagen und Anwendung der Röntgenfeinstrukturanalyse:

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Neff, Hans (VerfasserIn)
Format:	Buch
Sprache:	German
Veröffentlicht:	München Oldenbourg 1962
Ausgabe:	2., verb. und erw. Aufl.
Schlagworte:	Crystallography X-rays Kristallographie Röntgenbeugung Kristallgitter Kristallchemie Pulvermethode Kristall Legierung Silicate Röntgenfeinstrukturanalyse Röntgenstrahlung Röntgenstrukturanalyse
Online-Zugang:	Inhaltsverzeichnis
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adam_text	GRUNDLAGEN UND ANWENDUNG DER ROENTGEN-FEINSTRUKTUR-ANALYSE DR. RER. NAT. HANS NEFF LABORATORIUMSVORSTAND IM WERNERWERK FUER MESSTECHNIK DER SIEMENS & HALSKE AKTIENGESELLSCHAFT 2., VERBESSERTE UND ERWEITERTE AUFLAGE MIT 358 BILDERN UND 51 TAFELN R. OLDENBOURG MUENCHEN 1962 INHALTSVERZEICHNIS SEITE VORWORT 9 1. ALLGEMEINE PHYSIK DER ROENTGENSTRAHLEN 11 1.1 DIE ENTSTEHUNG UND DAS WESEN VON ROENTGENSTRAHLEN 11 1.2 DAS KONTINUIERLICHE SPEKTRUM 12 1.3 DAS CHARAKTERISTISCHE SPEKTRUM 12 1.4 DIE SCHWAECHUNG VON ROENTGENSTRAHLEN 15 1.5 DIE ERZEUGUNG MONOCHROMATISCHER ROENTGENSTRAHLUNG 17 1.6 DIE ENTSTEHUNG VON FLUORESZENZSTRAHLUNG 21 1.7 DER NACHWEIS VON ROENTGENSTRAHLEN 21 1.8 STRAHLENSCHUTZ 23 2. ROENTGENROEHREN UND APPARATE FUER FEINSTRUKTURUNTERSUCHUNGEN. . 26 2.1 ALLGEMEINES ZUR BEMESSUNG VON EINRICHTUNGEN FUER STRUKTURUNTER- SUCHUNGEN . . 26 2.2 FEINSTRUKTURROEHREN 28 2.3 GLUEHVENTILE 34 2.4 HALBWELLENAPPARATE 35 2.5 GLEICHSPANNUNGSAPPARATE 37 2.6 STABILISIERUNG 38 3. GRUNDLAGEN DER KRISTALLOGRAPHIE 45 3.1 DER KRISTALLINE ZUSTAND UND DIE AEUSSERE FORM DER KRISTALLE 45 3.2 KRISTALLSYSTEME, KRISTALLOGRAPHISCHE ACHSEN UND TRANSLATIONSGITTER . . 47 3.3 DIE GEOMETRIE DER KRISTALLGITTER 52 3.4 KRISTALLZONEN UND ZONENACHSEN 55 3.5 NETZEBENENABSTAENDE UND SCHNITTWINKEL 56 3.6 MAKROSYMMETRIEEIGENSCHAFTEN DER KRISTALLE 60 3.7 MIKROSYMMETRIEEIGENSCHAFTEN DER KRISTALLE 67 3.8 DIE PERSPEKTIVISCHE DARSTELLUNG VON KRISTALLEN 74 3.9 DIE STEREOGRAPHISCHE PROJEKTION 76 3.10 DAS REZIPROKE GITTER 87 6 INHALTSVERZEICHNIS 4. DIE PHYSIKALISCHEN GRUNDLAGEN DER ROENTGENSTRAHLBEUGUNG . . . . 91 4.1 DIE BEUGUNG VON ROENTGENSTRAHLEN AN RAUMGITTERN 91 4.2 DIE DEUTUNG DER BEUGUNG AM RAUMGITTER ALS REFLEXION AN NETZEBENEN 95 4.3 DIE BRAGGSCHE GLEICHUNG IM REZIPROKEN GITTER UND DIE EWALDSCHE KON- STRUKTION DER INTERFERENZSTRAHLEN 98 4.4 DIE WECHSELWIRKUNG ZWISCHEN ROENTGENSTRAHL UND ELEKTRON 100 DER POLARISATIONSFAKTOR 100 DER ATOMFAKTOR 103 DER TEMPERATURFAKTOR 107 4.5 DIE STRUKTURAMPLITUDE UND DER STRUKTURFAKTOR 109 4.6 DIE AUFNAHMETECHNISCHEN INTENSITAETSFAKTOREN 119 4.7 DIE EINFLUESSE VON EXTINKTION UND ABSORPTION AUF DIE REFLEXINTENSITAETEN 124 4.8 DIE BESTIMMUNG DER ATOMKOORDINATEN IN DER ELEMENTARZELLE MIT HILFE SUKZESSIVER NAEHERUNGEN (TRIAL-VERFAHREN) 128 4.9 DIE BESTIMMUNG DER ELEKTRONENDICHTE IN DER ELEMENTARZELLE MIT HILFE VON FOURIERSYNTHESEN 135 5. DIE PHOTOGRAPHISCHEN AUFNAHMEVERFAHREN AN KRISTALLPULVERN . . 147 5.1 DAS DEBYE-SCHERRER-VERFAHREN 148 5.2 DAS SEEMANN-BOHLIN-VERFAHREN 160 5.3 DAS GUINIER-PRINZIP 162 5.4 DIE PLANFILM- UND KEGELVERFAHREN 173 5.5 UNTERSUCHUNGSVERFAHREN BEI ERHOEHTEN TEMPERATUREN . 180 6. DIE UNTERSUCHUNGSVERFAHREN AN KRISTALLPULVERN MIT ZAEHLROHR- METHODEN 183 6.1 DIE IONISIERENDE WIRKUNG VON ROENTGENSTRAHLEN 184 6.3 DER AUSLOESE-ZAEHLER 187 6.2 DER PROPORTIONALBEREICH 191 6.4 DIE SZINTILLATIONSZAEHLER 195 6.5 DIE QUANTENSTATISTIK 197 6.6 DIE GEOMETRISCHEN UND KONSTRUKTIVEN MERKMALE DES ZAEHLROHR-INTERFE- RENZ-GONIOMETERS 202 6.7 DIE JUSTIERUNG DES ZAEHLROHR-INTERFERENZ-GONIOMETERS 209 6.8 DIE PRAEPARATION BEIM ZAEHLROHR-INTERFERENZ-GONIOMETER 212 6.9 ZAEHLROHRGERAETE UND AUFNAHMETECHNIK 219 6.10 SPEZIELLE AUFNAHMEVERFAHREN 227 7. DIE INDIZIERUNG VON PULVERAUFNAHMEN 233 7.1 DIE INDIZIERUNG VON PULVERAUFNAHMEN KUBISCH KRISTALLISIERENDER SUB- STANZEN 233 INHALTSVERZEICHNIS 1 7.2 DIE INDIZIERUNG VON PULVERAUFNAHMEN TETRAGONAL UND HEXAGONAL KRI- STALLISIERENDER SUBSTANZEN MIT HILFE DER HULLSCHEN KURVEN 239 7.3 DIE ANALYTISCHE INDIZIERUNGSMETHODE FUER SUBSTANZEN DES RHOMBISCHEN KRISTALLSYSTEMS 243 DIE PRAEZISIONSBESTIMMUNG VON GITTERKONSTANTEN 250 8.1 DIE VERMESSUNG DER INTERFERENZLINIEN AUF FEINSTRUKTURAUFNAHMEN . . 251 8.2 DIE SYSTEMATISCHEN FEHLER BEIM DEBYE-SCHERRER-VERFAHREN 252 8.3 DIE ASYMMETRISCHE METHODE NACH STRAUMANIS 256 8.4 DIE BESEITIGUNG DER SYSTEMATISCHEN FEHLER MIT GRAPHISCHEN UND RECH- NERISCHEN EXTRAPOLATIONSVERFAHREN FUER KUBISCHE SUBSTANZEN . . . . 258 8.5 DIE PRAEZISIONSBESTIMMUNGEN BEI TETRAGONALEN UND HEXAGONALEN SUB- STANZEN 262 8.6 DIE BESEITIGUNG VON FEHLERN MIT HILFE VON EICHSUBSTANZEN 264 8.7 PRAEZISIONSBESTIMMUNGEN MIT HILFE DES FOKUSSIERENDEN RUECKSTRAHLVER- FAHRENS 265 8.8 PRAEZISIONSBESTIMMUNGEN MIT DEM ZAEHLROHR-INTERFERENZ-GONIOMETER . 269 DIE IDENTIFIZIERUNG VON KRISTALLPULVERN UND DIE ANALYSE VON KRISTALLPULVERGEMISCHEN 275 9.1 DIE ASTM-KARTEI 276 9.2 DIE IDENTIFIZIERUNG VON SUBSTANZEN MIT HILFE DER ASTM-KARTEI . . . 277 9.3 QUANTITATIVE ANALYSEN VON KRISTALLPULVERGEMISCHEN 282 9.4 DIE BESTIMMUNG VON SCHICHTDICKEN AUS DEN INTERFERENZINTENSITAETEN . 290 UNTERSUCHUNGEN UEBER DEN REALBAU DER MATERIE 294 10.1 DIE BESTIMMUNG VON KRISTALLITGROESSEN IM MIKROSKOPISCHEN BEREICH AUS MESSUNGEN AN EINZELREFLEXEN 294 10.2 BESTIMMUNG VON KRISTALLITGROESSEN IM SUBMIKROSKOPISCHEN BEREICH UND ERMITTLUNG VON GITTERSTOERUNGEN AUS DEN PROFILEN DER INTERFERENZLINIEN 299 10.3 DIE MESSUNG ELASTISCHER SPANNUNGEN MIT ROENTGENSTRAHLEN 311 10.4 DIE BEUGUNGSERSCHEINUNGEN VON ROENTGENSTRAHLEN AN FLUESSIGKEITEN UND FESTEN AMORPHEN STOFFEN 323 10.5 DIE BESTIMMUNG VON TEILCHENGROESSEN AUS DER KLEINWINKELSTREUUNG . 332 TEXTURBESTIMMUNGEN MIT ROENTGENSTRAHLEN 337 11.1 DIE BESTIMMUNG VON TEXTUREN IN DRAEHTEN 340 11.2 DIE BESTIMMUNG VON TEXTUREN IN BLECHEN MIT PHOTOGRAPHISCHEN AUFNAHMEVERFAHREN 350 11.3 DIE BESTIMMUNG VON TEXTUREN IN BLECHEN MIT ZAEHLROHR-VERFAHREN . 354 11.4 DIE TEXTUREN VON ORGANISCHEN SUBSTANZEN UND HOCHPOLYMEREN . . 364 11.5 KRISTALLANISOTROPIE UND WERKSTOFFEIGENSCHAFTEN 368 8 INHALTSVERZEICHNIS SEITE 12. GRUNDZUEGE DER KRISTALLCHEMIE UND BESCHREIBUNG DER WICHTIGSTEN KRISTALLSTRUKTUREN 378 12.1 DIE GITTERBINDUNGSARTEN 378 12.11 DIE MOLEKUELGITTERBINDUNG 379 12.12 DIE IONENGITTERBINDUNG 379 12.13 DIE ATOMGITTERBINDUNG 380 12.14 DIE METALLGITTERBINDUNG 381 12.15 GITTER MIT MEHREREN BINDUNGSARTEN 382 12.16 GITTERBINDUNG UND TECHNOLOGISCHE EIGENSCHAFTEN 384 12.2 DER RAUMBEDARF DER ATOME UND IONEN 385 12.3 DIE HAUPTSTRUKTURTYPEN DER CHEMISCHEN ELEMENTE UND DER EINFACHE- REN ANORGANISCHEN VERBINDUNGEN 389 12.31 STRUKTUREN DER ELEMENTE 390 12.32 VERBINDUNGEN DER BAUFORMEL AB (B-TYPUS) 395 12.33 VERBINDUNGEN DER BAUFORMEL AB 2 (C-TYPUS) 399 12.34 WICHTIGE VERBINDUNGEN MIT KOMPLIZIERTEN BAUFORMELN . . . 404 12.35 DIE PAULINGSCHEN REGELN UEBER DIE ALLGEMEINEN BAUPRINZIPIEN DER HETEROPOLAREN KRISTALLE 409 12.4 STRUKTUREN DER SILIKATE 411 12.5 STRUKTUREN DER LEGIERUNGEN 418 12.51 DIE MISCHKRISTALLBILDUNG IN LEGIERUNGEN 419 12.52 DIE HUME-ROTHERY-PHASEN 420 12.53 DIE ZINTL-PHASEN 424 12.54 DIE LAVES-PHASEN 426 12.55 EINLAGERUNGS-MISCHKRISTALLE 427 12.56 UEBERSTRUKTUREN 429 12.6 DIE STRUKTUREN ORGANISCHER VERBINDUNGEN 431 13. LITERATUR 437 13.1 ALLGEMEINE LEHRBUECHER 437 13.2 TABELLENWERKE 441 13.3 EINZELHINWEISE AUF ORIGINALARBEITEN 442 14. SACH- UND NAMENVERZEICHNIS 451 14.1 SACHVERZEICHNIS 451 14.2 NAMENVERZEICHNIS 458 DRUCKFEHLERBERICHTIGUNG: NENNER DER FORMEL 4.32 AUF SEITE 127 MUSS STATT IZNR RICHTIG HEISSEN 32 NR.
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