Verfügbarkeit: Fourier-Transform-IR-spektroskopische Charakterisierung der Oberfläche von hochdispersem SiO2

Fourier-Transform-IR-spektroskopische Charakterisierung der Oberfläche von hochdispersem SiO2:

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Hoffmann, Pedro (VerfasserIn)
Format:	Buch
Sprache:	German
Veröffentlicht:	1986
Schlagworte:	Infrarotspektroskopie Amorpher Zustand Fourier-Transformation Oberfläche Fourier-Spektroskopie Infrarot Silicate Hochdisperser Festkörper Siliciumdioxid Hochschulschrift
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