Eichinger, P. (1986). Anwendung der Sekundärionen - Massenspektrometrie in der Mikroelektronik (Als Ms. gedr.). Fachinformationszentrum.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Eichinger, Peter. Anwendung Der Sekundärionen - Massenspektrometrie in Der Mikroelektronik. Als Ms. gedr. Karlsruhe: Fachinformationszentrum, 1986.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Eichinger, Peter. Anwendung Der Sekundärionen - Massenspektrometrie in Der Mikroelektronik. Als Ms. gedr. Fachinformationszentrum, 1986.
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