Anwendung der Sekundärionen - Massenspektrometrie in der Mikroelektronik:
Gespeichert in:
1. Verfasser: | |
---|---|
Format: | Buch |
Sprache: | German |
Veröffentlicht: |
Karlsruhe
Fachinformationszentrum
1986
|
Ausgabe: | Als Ms. gedr. |
Schriftenreihe: | Deutschland <Bundesrepublik> / Bundesminister für Forschung und Technologie: Forschungsbericht / T
86,34 |
Schlagworte: | |
Beschreibung: | 51 S. |
Internformat
MARC
LEADER | 00000nam a2200000 cb4500 | ||
---|---|---|---|
001 | BV000386091 | ||
003 | DE-604 | ||
005 | 19990521 | ||
007 | t | ||
008 | 870612s1986 |||| 00||| ger d | ||
035 | |a (OCoLC)74786026 | ||
035 | |a (DE-599)BVBBV000386091 | ||
040 | |a DE-604 |b ger |e rakddb | ||
041 | 0 | |a ger | |
049 | |a DE-12 |a DE-210 | ||
100 | 1 | |a Eichinger, Peter |e Verfasser |4 aut | |
245 | 1 | 0 | |a Anwendung der Sekundärionen - Massenspektrometrie in der Mikroelektronik |
250 | |a Als Ms. gedr. | ||
264 | 1 | |a Karlsruhe |b Fachinformationszentrum |c 1986 | |
300 | |a 51 S. | ||
336 | |b txt |2 rdacontent | ||
337 | |b n |2 rdamedia | ||
338 | |b nc |2 rdacarrier | ||
490 | 1 | |a Deutschland <Bundesrepublik> / Bundesminister für Forschung und Technologie: Forschungsbericht / T |v 86,34 | |
650 | 7 | |a Sekundärionen-Massenspektrometrie |2 swd | |
650 | 0 | 7 | |a Mikroelektronik |0 (DE-588)4039207-7 |2 gnd |9 rswk-swf |
650 | 0 | 7 | |a Sekundärionen-Massenspektrometrie |0 (DE-588)4077346-2 |2 gnd |9 rswk-swf |
655 | 7 | |a Halbleiteranalytik |2 swd | |
655 | 7 | |a Halbleiteranalytik |2 gnd |9 rswk-swf | |
689 | 0 | 0 | |a Halbleiteranalytik |A f |
689 | 0 | |5 DE-604 | |
689 | 1 | 0 | |a Sekundärionen-Massenspektrometrie |0 (DE-588)4077346-2 |D s |
689 | 1 | 1 | |a Mikroelektronik |0 (DE-588)4039207-7 |D s |
689 | 1 | |8 1\p |5 DE-604 | |
810 | 2 | |a Bundesminister für Forschung und Technologie: Forschungsbericht / T |t Deutschland <Bundesrepublik> |v 86,34 |w (DE-604)BV000004400 |9 86,34 | |
999 | |a oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-000239549 | ||
883 | 1 | |8 1\p |a cgwrk |d 20201028 |q DE-101 |u https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk |
Datensatz im Suchindex
_version_ | 1804114846866735104 |
---|---|
any_adam_object | |
author | Eichinger, Peter |
author_facet | Eichinger, Peter |
author_role | aut |
author_sort | Eichinger, Peter |
author_variant | p e pe |
building | Verbundindex |
bvnumber | BV000386091 |
ctrlnum | (OCoLC)74786026 (DE-599)BVBBV000386091 |
edition | Als Ms. gedr. |
format | Book |
fullrecord | <?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><collection xmlns="http://www.loc.gov/MARC21/slim"><record><leader>01586nam a2200409 cb4500</leader><controlfield tag="001">BV000386091</controlfield><controlfield tag="003">DE-604</controlfield><controlfield tag="005">19990521 </controlfield><controlfield tag="007">t</controlfield><controlfield tag="008">870612s1986 |||| 00||| ger d</controlfield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(OCoLC)74786026</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(DE-599)BVBBV000386091</subfield></datafield><datafield tag="040" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-604</subfield><subfield code="b">ger</subfield><subfield code="e">rakddb</subfield></datafield><datafield tag="041" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">ger</subfield></datafield><datafield tag="049" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-12</subfield><subfield code="a">DE-210</subfield></datafield><datafield tag="100" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Eichinger, Peter</subfield><subfield code="e">Verfasser</subfield><subfield code="4">aut</subfield></datafield><datafield tag="245" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Anwendung der Sekundärionen - Massenspektrometrie in der Mikroelektronik</subfield></datafield><datafield tag="250" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">Als Ms. gedr.</subfield></datafield><datafield tag="264" ind1=" " ind2="1"><subfield code="a">Karlsruhe</subfield><subfield code="b">Fachinformationszentrum</subfield><subfield code="c">1986</subfield></datafield><datafield tag="300" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">51 S.</subfield></datafield><datafield tag="336" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">txt</subfield><subfield code="2">rdacontent</subfield></datafield><datafield tag="337" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">n</subfield><subfield code="2">rdamedia</subfield></datafield><datafield tag="338" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">nc</subfield><subfield code="2">rdacarrier</subfield></datafield><datafield tag="490" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Deutschland <Bundesrepublik> / Bundesminister für Forschung und Technologie: Forschungsbericht / T</subfield><subfield code="v">86,34</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1=" " ind2="7"><subfield code="a">Sekundärionen-Massenspektrometrie</subfield><subfield code="2">swd</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Mikroelektronik</subfield><subfield code="0">(DE-588)4039207-7</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Sekundärionen-Massenspektrometrie</subfield><subfield code="0">(DE-588)4077346-2</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="655" ind1=" " ind2="7"><subfield code="a">Halbleiteranalytik</subfield><subfield code="2">swd</subfield></datafield><datafield tag="655" ind1=" " ind2="7"><subfield code="a">Halbleiteranalytik</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="0"><subfield code="a">Halbleiteranalytik</subfield><subfield code="A">f</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Sekundärionen-Massenspektrometrie</subfield><subfield code="0">(DE-588)4077346-2</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="1"><subfield code="a">Mikroelektronik</subfield><subfield code="0">(DE-588)4039207-7</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2=" "><subfield code="8">1\p</subfield><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="810" ind1="2" ind2=" "><subfield code="a">Bundesminister für Forschung und Technologie: Forschungsbericht / T</subfield><subfield code="t">Deutschland <Bundesrepublik></subfield><subfield code="v">86,34</subfield><subfield code="w">(DE-604)BV000004400</subfield><subfield code="9">86,34</subfield></datafield><datafield tag="999" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-000239549</subfield></datafield><datafield tag="883" ind1="1" ind2=" "><subfield code="8">1\p</subfield><subfield code="a">cgwrk</subfield><subfield code="d">20201028</subfield><subfield code="q">DE-101</subfield><subfield code="u">https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk</subfield></datafield></record></collection> |
genre | Halbleiteranalytik swd Halbleiteranalytik gnd |
genre_facet | Halbleiteranalytik |
id | DE-604.BV000386091 |
illustrated | Not Illustrated |
indexdate | 2024-07-09T15:13:13Z |
institution | BVB |
language | German |
oai_aleph_id | oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-000239549 |
oclc_num | 74786026 |
open_access_boolean | |
owner | DE-12 DE-210 |
owner_facet | DE-12 DE-210 |
physical | 51 S. |
publishDate | 1986 |
publishDateSearch | 1986 |
publishDateSort | 1986 |
publisher | Fachinformationszentrum |
record_format | marc |
series2 | Deutschland <Bundesrepublik> / Bundesminister für Forschung und Technologie: Forschungsbericht / T |
spelling | Eichinger, Peter Verfasser aut Anwendung der Sekundärionen - Massenspektrometrie in der Mikroelektronik Als Ms. gedr. Karlsruhe Fachinformationszentrum 1986 51 S. txt rdacontent n rdamedia nc rdacarrier Deutschland <Bundesrepublik> / Bundesminister für Forschung und Technologie: Forschungsbericht / T 86,34 Sekundärionen-Massenspektrometrie swd Mikroelektronik (DE-588)4039207-7 gnd rswk-swf Sekundärionen-Massenspektrometrie (DE-588)4077346-2 gnd rswk-swf Halbleiteranalytik swd Halbleiteranalytik gnd rswk-swf Halbleiteranalytik f DE-604 Sekundärionen-Massenspektrometrie (DE-588)4077346-2 s Mikroelektronik (DE-588)4039207-7 s 1\p DE-604 Bundesminister für Forschung und Technologie: Forschungsbericht / T Deutschland <Bundesrepublik> 86,34 (DE-604)BV000004400 86,34 1\p cgwrk 20201028 DE-101 https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk |
spellingShingle | Eichinger, Peter Anwendung der Sekundärionen - Massenspektrometrie in der Mikroelektronik Sekundärionen-Massenspektrometrie swd Mikroelektronik (DE-588)4039207-7 gnd Sekundärionen-Massenspektrometrie (DE-588)4077346-2 gnd |
subject_GND | (DE-588)4039207-7 (DE-588)4077346-2 |
title | Anwendung der Sekundärionen - Massenspektrometrie in der Mikroelektronik |
title_auth | Anwendung der Sekundärionen - Massenspektrometrie in der Mikroelektronik |
title_exact_search | Anwendung der Sekundärionen - Massenspektrometrie in der Mikroelektronik |
title_full | Anwendung der Sekundärionen - Massenspektrometrie in der Mikroelektronik |
title_fullStr | Anwendung der Sekundärionen - Massenspektrometrie in der Mikroelektronik |
title_full_unstemmed | Anwendung der Sekundärionen - Massenspektrometrie in der Mikroelektronik |
title_short | Anwendung der Sekundärionen - Massenspektrometrie in der Mikroelektronik |
title_sort | anwendung der sekundarionen massenspektrometrie in der mikroelektronik |
topic | Sekundärionen-Massenspektrometrie swd Mikroelektronik (DE-588)4039207-7 gnd Sekundärionen-Massenspektrometrie (DE-588)4077346-2 gnd |
topic_facet | Sekundärionen-Massenspektrometrie Mikroelektronik Halbleiteranalytik |
volume_link | (DE-604)BV000004400 |
work_keys_str_mv | AT eichingerpeter anwendungdersekundarionenmassenspektrometrieindermikroelektronik |