Datenerfassung und Steuerung für ein Sekundärionen-Massenspektrometer (SIMS):
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Format: Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: Berlin 1982
Schriftenreihe:Hahn-Meitner-Institut für Kernforschung <Berlin, West>: Berichte des ... 391
Beschreibung:35 S.

Es ist kein Print-Exemplar vorhanden.

Fernleihe Bestellen Achtung: Nicht im THWS-Bestand!