Charakterisierung von epitaktisch auf InP abgeschiedenen GaxIn1-xAs-Schichten (0.45...x...0.49) mittels Photolumineszenz und Doppelkritall-Röntgendiffraktometrie:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Goetz, Karl-Heinz 1954- (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: 1984
Schlagworte:
Beschreibung:Aachen, Techn. Hochsch., Diss.
Beschreibung:103 S.

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