Experimentelle Untersuchung der Thermospannungen von Silizium-Mos-Feldeffektstrukturen:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Rossian, Hans-Peter (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:Undetermined
Veröffentlicht: 1984
Schlagworte:
Beschreibung:Braunschweig, Techn. Univ., Diss.
Beschreibung:91, [64] S. Ill.

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