New horizons in testing: latent trait test theory and computerized adaptive testing
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser: Weiss, David J. (HerausgeberIn)
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: New York, NY [u.a.] Acad. Press 1983
Schlagworte:
Beschreibung:XVII, 345 S.
ISBN:0127427805

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