X-ray microscopy: proceedings of the internat. symposium
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Berlin [u.a.] Springer
Schriftenreihe:Springer series in optical sciences ...
Schlagworte:
ISBN:3540132716
0387132716
3540193928

Es ist kein Print-Exemplar vorhanden.

Fernleihe Bestellen Achtung: Nicht im THWS-Bestand!