Semiconductor strain metrology :: principles and applications /
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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Wong, Terence K. S.
Format: Elektronisch E-Book
Sprache:English
Veröffentlicht: [Saif Zone, Sharjah, U.A.E] ; Oak Park, IL : Bentham Science, [2012]
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext
Beschreibung:1 online resource (136 pages) : illustrations
Bibliographie:Includes bibliographical references and index.
ISBN:9781608053599
1608053598

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