Chiodo, E., De Falco, P., & Di Noia, L. P. (2021). Challenges and new trends in power electronic devices reliability. MDPI. https://doi.org/10.3390/books978-3-0365-1176-4
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Chiodo, Elio, Pasquale De Falco, und Luigi Pio Di Noia. Challenges and New Trends in Power Electronic Devices Reliability. Basel: MDPI, 2021. https://doi.org/10.3390/books978-3-0365-1176-4.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Chiodo, Elio, et al. Challenges and New Trends in Power Electronic Devices Reliability. MDPI, 2021. https://doi.org/10.3390/books978-3-0365-1176-4.
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