Deumer, J. (2024). Traceable characterization of complex-shaped nanoparticles using small-angle x-ray scattering.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Deumer, Jérôme. Traceable Characterization of Complex-shaped Nanoparticles Using Small-angle X-ray Scattering. Berlin, 2024.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Deumer, Jérôme. Traceable Characterization of Complex-shaped Nanoparticles Using Small-angle X-ray Scattering. 2024.
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