Software defect localization using explainable deep learning:
Gespeichert in:
1. Verfasser: | |
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Format: | Abschlussarbeit Elektronisch E-Book |
Sprache: | English |
Veröffentlicht: |
Berlin
Technische Universität Berlin
2024
|
Schlagworte: | |
Online-Zugang: | Volltext |
Beschreibung: | Enthält 5 Sonderdrucke aus verschiedenen Zeitschriften |
Beschreibung: | 1 Online-Ressource (ix, 159 Seiten) Illustrationen, Diagramme |
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