Software defect localization using explainable deep learning:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Ganz, Tom (VerfasserIn)
Format: Abschlussarbeit Elektronisch E-Book
Sprache:English
Veröffentlicht: Berlin Technische Universität Berlin 2024
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext
Beschreibung:Enthält 5 Sonderdrucke aus verschiedenen Zeitschriften
Beschreibung:1 Online-Ressource (ix, 159 Seiten) Illustrationen, Diagramme
DOI:10.14279/depositonce-20402

Es ist kein Print-Exemplar vorhanden.

Fernleihe Bestellen Achtung: Nicht im THWS-Bestand! Volltext öffnen