Ho, P. S., Hu, C., Gall, M., & Sucharev, V. (2022). Electromigration in metals: Fundamentals to nano-interconnects. Cambridge University Pres. https://doi.org/10.1017/9781139505819
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Ho, P. S., Chao-Kun Hu, Martin Gall, und Valerij Sucharev. Electromigration in Metals: Fundamentals to Nano-interconnects. Cambridge ; New York, NY: Cambridge University Pres, 2022. https://doi.org/10.1017/9781139505819.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Ho, P. S., et al. Electromigration in Metals: Fundamentals to Nano-interconnects. Cambridge University Pres, 2022. https://doi.org/10.1017/9781139505819.
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