Fernández Herrero, A. (2021). Systematic analysis of the impact of line-edge roughness on the X-ray scattering pattern. https://doi.org/10.14279/depositonce-12320
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Fernández Herrero, Analía. Systematic Analysis of the Impact of Line-edge Roughness on the X-ray Scattering Pattern. Berlin, 2021. https://doi.org/10.14279/depositonce-12320.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Fernández Herrero, Analía. Systematic Analysis of the Impact of Line-edge Roughness on the X-ray Scattering Pattern. 2021. https://doi.org/10.14279/depositonce-12320.
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