Schöler, M., Brecht, C., & Wellmann, P. J. (2019). Annealing-Induced Changes in the Nature of Point Defects in Sublimation-Grown Cubic Silicon Carbide. Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Schöler, Michael, Clemens Brecht, und Peter J. Wellmann. Annealing-Induced Changes in the Nature of Point Defects in Sublimation-Grown Cubic Silicon Carbide. Erlangen ; Nürnberg: Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg, 2019.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Schöler, Michael, et al. Annealing-Induced Changes in the Nature of Point Defects in Sublimation-Grown Cubic Silicon Carbide. Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg, 2019.
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