Klapetek, P. (2012). Quantitative Data Processing in Scanning Probe Microscopy: SPM Applications for Nanometrology. Elsevier Science.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Klapetek, Petr. Quantitative Data Processing in Scanning Probe Microscopy: SPM Applications for Nanometrology. Burlington: Elsevier Science, 2012.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Klapetek, Petr. Quantitative Data Processing in Scanning Probe Microscopy: SPM Applications for Nanometrology. Elsevier Science, 2012.
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