Leach, R. K. (2010). Fundamental principles of engineering nanometrology. William Andrew Elsevier Science.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Leach, R. K. Fundamental Principles of Engineering Nanometrology. Oxford Amsterdam: William Andrew Elsevier Science, 2010.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Leach, R. K. Fundamental Principles of Engineering Nanometrology. William Andrew Elsevier Science, 2010.
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