Voigtländer, B. (2019). Atomic Force Microscopy (Second Edition.). Springer. https://doi.org/10.1007/978-3-030-13654-3
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Voigtländer, Bert. Atomic Force Microscopy. Second Edition. Cham: Springer, 2019. https://doi.org/10.1007/978-3-030-13654-3.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Voigtländer, Bert. Atomic Force Microscopy. Second Edition. Springer, 2019. https://doi.org/10.1007/978-3-030-13654-3.
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