APA (7th ed.) Citation

Schaller, R. M. (2018). Isolationszuverlässigkeit und Lebensdauermodellierung für die Gehäusekonstruktion von Halbleitersensoren.

Chicago Style (17th ed.) Citation

Schaller, Rainer Markus. Isolationszuverlässigkeit Und Lebensdauermodellierung Für Die Gehäusekonstruktion Von Halbleitersensoren. Chemnitz, 2018.

MLA (9th ed.) Citation

Schaller, Rainer Markus. Isolationszuverlässigkeit Und Lebensdauermodellierung Für Die Gehäusekonstruktion Von Halbleitersensoren. 2018.

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