Schaller, R. M. (2018). Isolationszuverlässigkeit und Lebensdauermodellierung für die Gehäusekonstruktion von Halbleitersensoren.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Schaller, Rainer Markus. Isolationszuverlässigkeit Und Lebensdauermodellierung Für Die Gehäusekonstruktion Von Halbleitersensoren. Chemnitz, 2018.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Schaller, Rainer Markus. Isolationszuverlässigkeit Und Lebensdauermodellierung Für Die Gehäusekonstruktion Von Halbleitersensoren. 2018.
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