Matthus, C. (2019). Technologische Justierung der spektralen Empfindlichkeit von 4H-SiC-UV-Sensoren. Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Matthus, Christian. Technologische Justierung Der Spektralen Empfindlichkeit Von 4H-SiC-UV-Sensoren. Erlangen ; Nürnberg: Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg, 2019.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Matthus, Christian. Technologische Justierung Der Spektralen Empfindlichkeit Von 4H-SiC-UV-Sensoren. Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg, 2019.
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