Methoden zur Messdatenverarbeitung und Erhöhung der Sensitivität für EMV-Nahfeldmessungen:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Schmidt, Martin (VerfasserIn)
Format: Abschlussarbeit Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: München Dr. Hut 2018
Schriftenreihe:Elektrotechnik
Schlagworte:
Online-Zugang:Inhaltstext
http://www.dr.hut-verlag.de/978-3-8439-3429-9.html
Inhaltsverzeichnis
Beschreibung:180 Seiten Illustrationen 21 cm x 14.8 cm, 280 g
ISBN:3843934290
9783843934299

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