Stevie, F. A. (2016). Secondary ion mass spectrometry: Applications for depth profiling and surface characterization. Momentum Press.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Stevie, F. A. Secondary Ion Mass Spectrometry: Applications for Depth Profiling and Surface Characterization. New York, [New York] (222 East 46th Street, New York, NY 10017): Momentum Press, 2016.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Stevie, F. A. Secondary Ion Mass Spectrometry: Applications for Depth Profiling and Surface Characterization. Momentum Press, 2016.
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