Ventura, S., & Luna, J. M. (2018). Supervised descriptive pattern mining. Springer. https://doi.org/10.1007/978-3-319-98140-6
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Ventura, Sebastián, und José María Luna. Supervised Descriptive Pattern Mining. Cham: Springer, 2018. https://doi.org/10.1007/978-3-319-98140-6.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Ventura, Sebastián, und José María Luna. Supervised Descriptive Pattern Mining. Springer, 2018. https://doi.org/10.1007/978-3-319-98140-6.
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