Sachdev, M. (1999). Defect Oriented Testing for CMOS Analog and Digital Circuits. Springer US. https://doi.org/10.1007/978-1-4757-4926-7
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Sachdev, Manoj. Defect Oriented Testing for CMOS Analog and Digital Circuits. Boston, MA: Springer US, 1999. https://doi.org/10.1007/978-1-4757-4926-7.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Sachdev, Manoj. Defect Oriented Testing for CMOS Analog and Digital Circuits. Springer US, 1999. https://doi.org/10.1007/978-1-4757-4926-7.
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