Haase, A. (2017). Multimethod metrology of multilayer mirrors using EUV and X-Ray radiation. https://doi.org/10.14279/depositonce-6428
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Haase, Anton. Multimethod Metrology of Multilayer Mirrors Using EUV and X-Ray Radiation. Berlin, 2017. https://doi.org/10.14279/depositonce-6428.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Haase, Anton. Multimethod Metrology of Multilayer Mirrors Using EUV and X-Ray Radiation. 2017. https://doi.org/10.14279/depositonce-6428.
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